實驗行星球磨機粉體材料粒度的檢測可採用篩分法││✘✘◕、沉降法││✘✘◕、電阻法││✘✘◕、鐳射法││✘✘◕、電鏡法等多種方法▩↟☁↟。其每種方法都有各自的特點☁•，檢測結果也可能會有差異▩↟☁↟。對於粒度較細或比重較小的顆粒☁•，採用後三種方法的檢測結果比較好▩↟☁↟。例如☁•，加工粒徑約為15~20μm的產品☁•，使用這幾種儀器測量結果雖有差異☁•，但相差不是很大▩↟☁↟。如果用沉降法測量☁•，則可能會產生較大的測量誤差▩↟☁↟。  
　　顆粒群體通常由大量大小不同的顆粒組成▩↟☁↟。按粒徑大小分為若干級數☁•，表示出每個級數顆粒的相對含量☁•，稱為微分分佈；表示出小於某個數顆粒的總含量☁•，稱為累積分佈▩↟☁↟。  
　　行星球磨粒徑是粒度分佈曲線中顆粒的等效直徑▩↟☁↟。平均粒徑是粒度分佈曲線中累積分佈為50%時的較大顆粒的等效直徑▩↟☁↟。D90粒徑││✘✘◕、D95粒徑││✘✘◕、D98粒徑分別是分佈曲線中累積分佈為90%││✘✘◕、95%││✘✘◕、98%時的顆粒的等效直徑▩↟☁↟。  
　　根據實驗行星球磨機研磨粒度分佈曲線可以看出✘•↟₪·：如果以較大粒徑來衡量粉體的等級☁•，可標為16μm或800目透過▩↟☁↟。如果以D90粒徑（或“90%透過粒度”）來表示☁•，粉體的等級可上升到6μm或2000目▩↟☁↟。如果以D50粒徑（或“平均粒徑”││✘✘◕、“中位徑”）來表示☁•，粉體的等級便會躍升到可到2.8μm或4500目▩↟☁↟。由此可見☁•，選擇不同的積累分佈資料來表示粒度指標☁•，會得到差異很大的不同概念▩↟☁↟。    
　　由此得知☁•，如想知道實驗行星球磨機球磨的某一種超細粉是否到幾千目或是一兩萬目的細度☁•，就要認真瞭解是小樣試驗還是成批生產隨機抽樣☁•，用什麼方法檢測☁•，要了解是在哪個積累分佈取得的粒度資料☁•，才能瞭解這批粉體材料的準確質量指標▩↟☁↟。